Completed
2014.04.02 11:58
비파괴 검사를 이용한 Defect 및 물성측정에 관한 기술 자문
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비파괴 검사를 이용한 Defect 및 물성측정에 관한 기술 자문
삼성전자(주)
2014.02.21~2014.06.30
분류 | 제목 |
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On Going | 데이터과학기반 비파괴검사 난제 해결기술 개발(2차년도) |